የተንግስተን ፊላንት ቅኝት ኤሌክትሮን ማይክሮስኮፕ ፣ ኢኮ. SEM, 15x ~ 250000x

Tungsten Filament Scanning Electron Microscope, Eco. SEM, 15x~250000x Featured Image

አ 633.7062

አጭር መግለጫ

15x ~ 25000x የ tungsten Filament Scanning ኤሌክትሮን ማይክሮስኮፕ ፣ ስቲ. ሴሜ

ሊሻሻል የሚችል ላቢ 6 ፣ ኤክስ-ሬይ መመርመሪያ ፣ ኢ.ቢ.ኤስ.ዲ. ፣ CL ፣ WDS ፣ ሽፋን ማሽን እና ወዘተ

ባለብዙ ማሻሻያ ኢ.ቢ.ኤል. ፣ STM ፣ AFTM ፣ የሙቀት አቀማመጥ ፣ ክሪዮ ደረጃ ፣ የመነጠፊያ ደረጃ ፣ SEM + Laser እና ወዘተ

ራስ-ሰር መለካት ፣ ራስ-ሰር የተሳሳተ ፍለጋ ፣ ለማቆየት እና ለመጠገን ዝቅተኛ ወጭ

ቀላል እና ወዳጃዊ የአሠራር በይነገጽ ፣ በዊንዶውስ ሲስተም ሁሉም በመዳፊት የተጠመደ

አነስተኛ የትእዛዝ ብዛት1

ኢሜል ይላኩልን

የምርት ዝርዝር

የምርት መለያዎች

የምርት ማብራሪያ

A63.7062 የቱንስተን መሸፈኛ የኤሌክትሮን ማይክሮስኮፕን መቃኘት, ኢኮ. ሴሜ
ጥራት	4.5nm@30KV (SE); 6nm @ 30KV (BSE)
ማጉላት	አሉታዊ ማጉላት: 15x ~ 250000x; የማያ ገጽ ማጉላት: 30x ~ 500000x
ኤሌክትሮን ሽጉጥ	የተንግስተን ሙቀት ያለው ካቶድ-ቅድመ ማእከል የተንግስተን መከላከያ ካርትሬጅ
ፍጥነትን ማፋጠን	0 ~ 30 ኪ.ሜ.
የምስሪት ስርዓት	ባለሶስት-ደረጃ የኤሌክትሮማግኔቲክ ሌንስ (የታሸገ ሌንስ)
ዓላማ ቀዳዳ	የሞሊብዲነም ቀዳዳ ከውጭ የሚወጣው የቫኪዩም ሲስተም
የሙከራ ደረጃ	አምስት መጥረቢያ ደረጃ
የጉዞ ክልል	ኤክስ (ራስ-ሰር)	0 ~ 50 ሚሜ
ያ (ራስ-ሰር)	0 ~ 50 ሚሜ
ዜድ (መመሪያ)	0 ~ 25 ሚሜ
አር (መመሪያ)	360o
ቲ (መመሪያ)	-5o ~ 90o
የማክስ ናሙና ዲያሜትር	150 ሚሜ
መርማሪ	SE: ከፍተኛ የቫኪዩም ሁለተኛ ኤሌክትሮኒክ መመርመሪያ (ከመርማሪ ጥበቃ ጋር)
ማሻሻያ	የመድረክ ደረጃ ማሻሻል ፣ ኢ.ቢ.ኤል ፣ እስቲኤም ፣ ኤኤፍኤም
መለዋወጫዎች	ሲ.ሲ.ዲ. ፣ ላቢ 6 ፣ ኤክስ-ሬይ መመርመሪያ (ኢ.ዲ.ኤስ) ፣ ኢ.ቢ.ኤስ.ዲ. ፣ CL ፣ WDS ፣ ሽፋን ማሽን
የቫኩም ስርዓት	የቱርቦ ሞለኪውላዊ ፓምፖች ፣ የማዞሪያ ፓምፕ
የኤሌክትሮን ጨረር ወቅታዊ	10 ፓአ ~ 0.1